最大5倍の性能向上を実現した3次元計測

scanCONTROL 30xxシリーズのレーザープロファイルスキャナー用新ファームウェアV53を公開しました。新バージョンでは、特に露光時間を最適化しました。これにより、露光時間を最大80％短縮し、プロファイル測定を最大5倍速で行えるようになりました。そのため、高精度な2次元および3次元の計測を高いダイナミクスで行うことができます。

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