GIEメディアのラウンドテーブル「Today's Metrology」にYxlon社のDirk Stei氏が登場

Yxlon社のビジネス開発マネージャであるDirk Steiner氏は、2004年から産業用CT（コンピュータ断層検査）に集中的に取り組み、1,000以上のデータセットをスキャンして解析してきました。ここでは、GIEメディアによる「Today's Metrology Live」ウェビナーの録画をご覧いただき、CT（コンピュータ断層撮影）を用いてどのように厳しい計測タスクを確実に解決しているかをご紹介します。Yxlon社は、他の計測関連技術のメーカーとともに出席し、ソリューションの包括的な概要を説明しました。

Dirk氏は、産業用CT（コンピュータ断層検査）を使用した計測の最新トレンドと、効率化とコスト削減のためにメーカーが必要とする情報を得るためにデータがいかに重要であるかについて話しました。メーカーにとって最も重要なのは、製品の高品質化です。ラウンドテーブル」では、5人の参加者が、それぞれのソリューションがどのように生産者の実現に役立つかを話し合いました。しかし、内部構造の測定と分析は、CTでなければできません。

投げかけられた質問の一つに対して、ダークは「CTは非接触型の方法なので、プロセスの中で形状を変えることはありません」と答えました。内部構造を見ることができますし、現在はアディティブ・マニュファクチャリング（積層造形）が大きなトレンドになっているので、デザインやプリントに制限はありません。CTを使えば、内部を見て、アンダーカットや部品の内部に隠れているものまで計測できます。さらに、計測とは関係のない内部欠陥のデータも得ることができます。つまり、一石二鳥なのです」。

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